Accueil

14/06/2017

Mesurer au quotidien et inventer le futur lors du CIM 2017


logo Congrès CIM 2017 

Le Congrès International de Métrologie se déroulera du 19 au 21 septembre 2017 (CIM 2017) à Paris, Porte
de Versailles

Catégorie : Manifestations en cours et à venir

Le CIM est un événement unique à la croisée des chemins entre applications industrielles et R&D pour tout public
et tous secteurs : utilisateurs industriels de moyens de mesure, experts techniques, laboratoires publics et privés,
fabricants et prestataires.

Les sujets forts : métrologie 4.0 et usine du futur, nouvelle ISO/CEI 17025, métrologie pour les laboratoires de
biologie, la santé et le pharmaceutique, développements dans l’énergie, nanotechnologies.

Programme et infos



Page suivante : Activités de Métrodiff